S781白漆在空間輻照環(huán)境下物性變化分析

文章研究S781白漆分別在紫外、質(zhì)子和紫外+質(zhì)子+電子綜合輻照環(huán)境下太陽吸收率(αs)的退化情況,并利用X射線光電子能譜(XPS)和掃描電子顯微鏡(SEM)對樣品表面的成分和形貌進行了分析.結(jié)果表明:S781白漆的αs受紫外輻照影響較小,但是在質(zhì)子和綜合輻照條件下退化明顯.紫外輻照會對S781的硅樹脂粘合劑產(chǎn)生裂解作用,質(zhì)子輻照下樣品表面會有污染形成,電子輻照會對深層的硅樹脂性質(zhì)產(chǎn)生影響.

作 者： 劉宇明 馮偉泉 丁義剛 鄭慧奇 趙雪 Liu Yuming Feng Weiquan Ding Yigang Zheng Huiqi Zhao Xue   作者單位： 北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所,北京,100094  刊 名： 航天器環(huán)境工程  ISTIC 英文刊名： SPACECRAFT ENVIRONMENT ENGINEERING  年，卷(期)： 2007 24(4)  分類號： V416.5 V254.2  關(guān)鍵詞： S781白漆   太陽吸收率   紫外輻照   質(zhì)子輻照   綜合輻照  

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