利用RDSS系統(tǒng)測量數(shù)據(jù)提取電離層TEC參數(shù)的研究

提出了一種基于無線測定衛(wèi)星業(yè)務(RDSS)系統(tǒng)觀測數(shù)據(jù)提取電離層TEC參數(shù)的方法,利用此方法計算分析了2006年5月地面中心地區(qū)電離層垂向TEC的日變化趨勢.研究結果表明,利用RDSS系統(tǒng)觀測數(shù)據(jù)提取的電離層垂向TEC,在北京時間每日凌晨0400時左右達到最小值,在午后1400時左右達到最大值,符合電離層TEC參數(shù)受太陽活動影響較大的物理規(guī)律.結果說明研究方法是可行且有效的,文章還對可能存在的誤差進行了探討.

作 者： 徐麗娟 袁洪 范建軍 廖炳瑜 XU Lijuan YUAN Hong FAN Jianjun LIAO Bingyu   作者單位： 徐麗娟,XU Lijuan(中國科學院光電研究院,北京,100080;中國科學院空間科學與應用研究中心;中國科學院研究生院)

袁洪,范建軍,廖炳瑜,YUAN Hong,FAN Jianjun,LIAO Bingyu(中國科學院光電研究院,北京,100080) 

刊 名： 空間科學學報  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF SPACE SCIENCE  年，卷(期)： 2007 27(4)  分類號： P353  關鍵詞： 無線測定衛(wèi)星業(yè)務   偽距   電離層   電子濃度總含量(TEC)  

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